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業績詳細


【特許等】

荷電粒子放射線計測方法および荷電粒子放射線計測装置
【発明者名】
加田渉 三浦健太 花泉修 神谷富裕 佐藤隆博 須崎純一 山田鈴弥
【出願/公開/登録の番号】
特願2015-169363
【出願/公開/登録の日付】
2015年08月28日
【出願国】
日本

【研究者】

加田 渉