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業績詳細


【論文】

Radiation tolerance of silicon and diamond detectors exposed to MeV ion beams - Characterization using IBIC technique
【全著者名】
M. Jaksic, V. Grilj, N. Skukan, M. Pomorski, W. Kada, T. Kamiya
【掲載雑誌名】
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
【巻・号・頁】
8725
【発表年月】
2013年08月
【単著、共著の別】
共著
【掲載雑誌種別】
その他
【DOI】
10.1117/12.2015435

【研究者】

加田 渉